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一种芯片测试设备及控制方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510392778.X
申请日：
2025-03-31
公开(公告)号：
CN120254340A
公开(公告)日：
2025-07-04
发明(设计)人：
文根发
申请人：
苏州联讯仪器股份有限公司
申请人地址：
215129 江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢
IPC主分类号：
G01R1/02
IPC分类号：
G01R1/04 G01R31/28 H01L21/66 H01L21/677 B65G29/00 B65G47/91
代理机构：
苏州创智高诺知识产权代理有限公司 32843
代理人：
戈余丽
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-22 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/02申请日:20250331
2025-07-04 公开 公开
共 50 条
[1]
一种芯片测试设备及测试方法 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN121027144A ,2025-11-28
[2]
芯片测试方法及芯片测试设备 [P]. 
原东明 ;
李亮 ;
申华新 .
中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23
[3]
一种芯片测试机及芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18
[4]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
文波 ;
谷威 .
中国专利 :CN118501653A ,2024-08-16
[5]
芯片测试设备及方法 [P]. 
张健 ;
马培佳 .
中国专利 :CN118671560A ,2024-09-20
[6]
芯片测试设备及方法 [P]. 
欧永明 ;
林寅 .
中国专利 :CN120652253A ,2025-09-16
[7]
一种芯片的测试设备 [P]. 
任准 .
中国专利 :CN120142710A ,2025-06-13
[8]
芯片测试排线及芯片测试设备 [P]. 
赵海洋 ;
刘乐 ;
刘伟 ;
王健 ;
孔晓琳 ;
张家华 ;
李安平 .
中国专利 :CN216870739U ,2022-07-01
[9]
一种芯片测试载具及具有其的芯片测试设备及方法 [P]. 
金永斌 ;
王强 ;
贺涛 ;
丁宁 ;
朱伟 .
中国专利 :CN117420365B ,2024-07-12
[10]
一种芯片测试载具及具有其的芯片测试设备及方法 [P]. 
金永斌 ;
王强 ;
贺涛 ;
丁宁 ;
朱伟 .
中国专利 :CN117420365A ,2024-01-19
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