共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种芯片测试载具及具有其的芯片测试设备及方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311168588.7
申请日：
2023-09-12
公开(公告)号：
CN117420365A
公开(公告)日：
2024-01-19
发明(设计)人：
金永斌
王强
贺涛
丁宁
朱伟
申请人：
法特迪精密科技（苏州）有限公司
申请人地址：
215126 江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号5#101、102、201、202
IPC主分类号：
G01R31/00
IPC分类号：
G01R1/04
代理机构：
南京华鑫君辉专利代理有限公司 32544
代理人：
徐明慧
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省
苏州市
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-02-06 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20230912 |
| 2024-07-12 | 授权 | 授权 |
| 2024-01-19 | 公开 | 公开 |
| 2024-12-10 | 专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更IPC(主分类):G01R 31/00变更事项:专利权人变更前:法特迪精密科技（苏州）有限公司变更后:苏州法特迪科技股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:215126 江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号5#101、102、201、202变更后:215126 江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号5#101、102、201、202 |