共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
芯片测试设备及方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410853354.4
申请日：
2024-06-27
公开(公告)号：
CN118671560A
公开(公告)日：
2024-09-20
发明(设计)人：
张健
马培佳
申请人：
通富微电子股份有限公司
申请人地址：
226004 江苏省南通市崇川路288号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/02
B65G35/00
代理机构：
北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226
代理人：
李明
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省
南通市
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-10-11 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240627 |
| 2024-09-20 | 公开 | 公开 |