芯片测试设备及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510722161.X

申请日：

2025-05-30

公开(公告)号：

CN120652253A

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

欧永明林寅

申请人：

至行科技（浙江）有限公司

申请人地址：

314000 浙江省嘉兴市海宁市长安镇新潮路19号B02幢2楼

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542

代理人：

卢东娟

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	公开	公开
2025-10-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250530

共 50 条

[1]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[2]

芯片测试设备及方法 [P].

张健 ;

马培佳 .

中国专利 :CN118671560A ,2024-09-20

[3]

一种芯片测试机及芯片测试设备 [P].

孙成扬 .

中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18

[4]

芯片测试排线及芯片测试设备 [P].

赵海洋 ;

刘乐 ;

刘伟 ;

王健 ;

孔晓琳 ;

张家华 ;

李安平 .

中国专利 :CN216870739U ,2022-07-01

[5]

芯片测试设备及芯片测试方法 [P].

潘月胜 ;

王梓 ;

霍亮 .

中国专利 :CN117554778A ,2024-02-13

[6]

一种芯片测试设备及测试方法 [P].

孙成扬 .

中国专利 :CN121027144A ,2025-11-28

[7]

视频处理芯片的测试设备及测试方法 [P].

杨科 ;

刘伟 .

中国专利 :CN113009318A ,2021-06-22

[8]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[9]

芯片质量测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

禹乾勋 .

中国专利 :CN118467517A ,2024-08-09

[10]

芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

廖钰 .

中国专利 :CN118569153B ,2025-12-26

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