产品缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010612366.X

申请日：

2020-06-30

公开(公告)号：

CN111768386B

公开(公告)日：

2024-02-20

发明(设计)人：

苏业聂磊邹建法黄锋

申请人：

北京百度网讯科技有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/80 G06V10/56 G06V10/44 G06V10/82 G06N3/0464

代理机构：

北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413

代理人：

马敬;项京

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-20	授权	授权

共 50 条

[1]

产品缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

苏业 ;

聂磊 ;

邹建法 ;

黄锋 .

中国专利 :CN111768386A ,2020-10-13

[2]

产品缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

矫函哲 ;

黄锋 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN111986178A ,2020-11-24

[3]

产品缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

矫函哲 ;

黄锋 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN111986178B ,2024-06-18

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862B ,2024-04-12

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陈诗伟 ;

孙新 .

中国专利 :CN117853425A ,2024-04-09

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115690101A ,2023-02-03

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

张丽 ;

闫丹 ;

彭传波 ;

马润欣 ;

储秀秀 ;

李栋 ;

孙运达 .

中国专利 :CN119722638A ,2025-03-28

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115690102A ,2023-02-03

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