缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品

被引：0

申请号：

CN202211701346.5

申请日：

2022-12-29

公开(公告)号：

CN115690102A

公开(公告)日：

2023-02-03

发明(设计)人：

请求不公布姓名

申请人：

申请人地址：

100080 北京市海淀区海淀大街31号2层209

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T713 G06T530 G06V1028 G06V1034 G06V1044 G06V1075 G06V1082 G06N308 G06N3045

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-03	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN116228746B ,2024-08-23

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN116245876B ,2024-06-11

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115690101A ,2023-02-03

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

张丽 ;

闫丹 ;

彭传波 ;

马润欣 ;

储秀秀 ;

李栋 ;

孙运达 .

中国专利 :CN119722638A ,2025-03-28

[5]

回环检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115661821A ,2023-01-31

[6]

产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

吕承侃 ;

商秀芹 .

中国专利 :CN114463261A ,2022-05-10

[7]

产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

吕承侃 ;

商秀芹 .

中国专利 :CN114463261B ,2025-10-21

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

陈一宁 ;

曾立超 ;

高大为 .

中国专利 :CN120635033A ,2025-09-12

[9]

产品缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

苏业 ;

聂磊 ;

邹建法 ;

黄锋 .

中国专利 :CN111768386B ,2024-02-20

[10]

产品缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

苏业 ;

聂磊 ;

邹建法 ;

黄锋 .

中国专利 :CN111768386A ,2020-10-13

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