产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111602331.9

申请日：

2021-12-24

公开(公告)号：

CN114463261B

公开(公告)日：

2025-10-21

发明(设计)人：

吕承侃商秀芹

申请人：

中国科学院自动化研究所

申请人地址：

100190 北京市海淀区中关村东路95号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/764 G06V10/774

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

吴刚

法律状态：

授权

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-21	授权	授权

共 50 条

[1]

产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

吕承侃 ;

商秀芹 .

中国专利 :CN114463261A ,2022-05-10

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

陈一宁 ;

曾立超 ;

高大为 .

中国专利 :CN120635033A ,2025-09-12

[3]

产品缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

刘建烽 ;

秦伟 ;

陈烨 ;

金昆 ;

彭庆 .

中国专利 :CN119180787A ,2024-12-24

[4]

重轨缺陷检测方法、程序产品、介质及电子设备 [P].

张雪荣 ;

段文 ;

周剑华 ;

董茂松 ;

叶佳林 ;

周雪清 ;

乘龙 ;

曾永龙 ;

戴鹏 ;

张俊 ;

余志钢 .

中国专利 :CN120672661A ,2025-09-19

[5]

光学模组缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

张保昌 .

中国专利 :CN120721358A ,2025-09-30

[6]

单板的缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

王旺 ;

卢一锐 ;

姚富明 ;

任凡 .

中国专利 :CN120253902A ,2025-07-04

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115690101A ,2023-02-03

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

张丽 ;

闫丹 ;

彭传波 ;

马润欣 ;

储秀秀 ;

李栋 ;

孙运达 .

中国专利 :CN119722638A ,2025-03-28

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN116245876B ,2024-06-11

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115690102A ,2023-02-03

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