学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

单板的缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510385154.5
申请日：
2025-03-28
公开(公告)号：
CN120253902A
公开(公告)日：
2025-07-04
发明(设计)人：
王旺 卢一锐 姚富明 任凡
申请人：
上海域允信息技术有限公司
申请人地址：
201204 上海市浦东新区御北路385号1幢2层236室
IPC主分类号：
G01N23/04
IPC分类号：
G06T7/00 G06V10/25 G06V10/764
代理机构：
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人：
闫洁;刘芳
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-04 公开 公开
2025-07-22 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/04申请日:20250328
共 50 条
[1]
产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
吕承侃 ;
商秀芹 .
中国专利 :CN114463261A ,2022-05-10
[2]
产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
吕承侃 ;
商秀芹 .
中国专利 :CN114463261B ,2025-10-21
[3]
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
陈一宁 ;
曾立超 ;
高大为 .
中国专利 :CN120635033A ,2025-09-12
[4]
光学模组缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
张保昌 .
中国专利 :CN120721358A ,2025-09-30
[5]
产品缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
刘建烽 ;
秦伟 ;
陈烨 ;
金昆 ;
彭庆 .
中国专利 :CN119180787A ,2024-12-24
[6]
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN115690101A ,2023-02-03
[7]
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P]. 
张丽 ;
闫丹 ;
彭传波 ;
马润欣 ;
储秀秀 ;
李栋 ;
孙运达 .
中国专利 :CN119722638A ,2025-03-28
[8]
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN115690102A ,2023-02-03
[9]
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN116228746B ,2024-08-23
[10]
缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN116245876B ,2024-06-11
12345