一种TOSA芯片的光学性能测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911215606.6

申请日：

2019-12-02

公开(公告)号：

CN110927556B

公开(公告)日：

2024-02-20

发明(设计)人：

朱腾飞

申请人：

昂纳科技（深圳）集团股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市坪山区翠景路35号

IPC主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360

代理人：

陈琳;陈嘉琪

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种TOSA芯片的光学性能测试系统 [P].

朱腾飞 .

中国专利 :CN110927556A ,2020-03-27

[2]

一种LED芯片光学性能测试方法及系统 [P].

程先金 ;

徐金军 ;

李园刚 ;

张聪 ;

杨重影 .

中国专利 :CN118624181A ,2024-09-10

[3]

一种TOSA加电测试板及TOSA测试系统 [P].

尹正茂 ;

李林科 ;

吴天书 ;

杨现文 ;

张健 .

中国专利 :CN220854113U ,2024-04-26

[4]

一种LED芯片光学性能测试方法及系统 [P].

彭超 ;

黄胜蓝 ;

谈健 ;

顾胜 .

中国专利 :CN120651500A ,2025-09-16

[5]

一种用于微型光器件光学性能测试的装置、系统 [P].

胡小文 ;

冯雷 ;

马腾飞 ;

杨迪 ;

赵博文 ;

张少春 .

中国专利 :CN120404062A ,2025-08-01

[6]

一种光学测试系统 [P].

蒋伟楷 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN210089983U ,2020-02-18

[7]

一种芯片性能测试系统 [P].

刘爽 ;

龙立镖 .

中国专利 :CN120142899A ,2025-06-13

[8]

光学模组的光学性能测试系统及方法 [P].

滕雪英 ;

韩欣欣 .

中国专利 :CN113834637A ,2021-12-24

[9]

一种内窥镜光学性能测试系统及测试方法 [P].

潘建根 ;

李倩 ;

魏嘉 .

中国专利 :CN115200837B ,2025-12-16

[10]

一种RECEPTACLE TOSA光纤测试系统 [P].

曾同新 .

中国专利 :CN205490549U ,2016-08-17

← 1 2 3 4 5 →