一种LED芯片光学性能测试方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511003840.8

申请日：

2025-07-21

公开(公告)号：

CN120651500A

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

彭超黄胜蓝谈健顾胜

申请人：

湘能华磊光电股份有限公司

申请人地址：

423000 湖南省郴州市苏仙区白露塘镇后营大道(郴州市有色金属产业园)

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01J1/00 G01J5/60

代理机构：

北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246

代理人：

李泽标

法律状态：

公开

国省代码：

湖南省郴州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	公开	公开
2025-10-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20250721

共 50 条

[1]

一种LED芯片光学性能测试方法及系统 [P].

程先金 ;

徐金军 ;

李园刚 ;

张聪 ;

杨重影 .

中国专利 :CN118624181A ,2024-09-10

[2]

一种LED灯具的光学性能测试方法 [P].

黄立平 ;

陈志维 ;

梁庆宇 .

中国专利 :CN119198007A ,2024-12-27

[3]

一种LED灯具的光学性能测试方法 [P].

黄立平 ;

陈志维 ;

梁庆宇 .

中国专利 :CN119198007B ,2025-04-01

[4]

光学性能测试系统及测试方法 [P].

彭旭 ;

韩欣欣 ;

董航宇 .

中国专利 :CN113848041A ,2021-12-28

[5]

光学性能测试系统及测试方法 [P].

彭旭 ;

韩欣欣 ;

董航宇 .

中国专利 :CN113848041B ,2024-04-30

[6]

芯片性能测试方法及系统 [P].

岑律钢 ;

赵书鹏 ;

毛亦凡 ;

丁昊杰 ;

翁恒鑫 ;

周吉星 .

中国专利 :CN117389853A ,2024-01-12

[7]

一种TOSA芯片的光学性能测试系统 [P].

朱腾飞 .

中国专利 :CN110927556A ,2020-03-27

[8]

一种TOSA芯片的光学性能测试系统 [P].

朱腾飞 .

中国专利 :CN110927556B ,2024-02-20

[9]

一种检测LED芯片光学性能的多路检测系统 [P].

董宁 ;

刘攀超 ;

李波 .

中国专利 :CN204228906U ,2015-03-25

[10]

一种检测LED芯片光学性能的多路检测系统 [P].

董宁 ;

刘攀超 ;

李波 .

中国专利 :CN104459507A ,2015-03-25

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