一种检测LED芯片光学性能的多路检测系统

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专利类型
发明
申请号
CN201410708003.0
申请日
2014-11-27
公开(公告)号
CN104459507A
公开(公告)日
2015-03-25
发明(设计)人
董宁 刘攀超 李波
申请人
申请人地址
518101 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
G01M1102
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种检测LED芯片光学性能的多路检测系统 [P]. 
董宁 ;
刘攀超 ;
李波 .
中国专利 :CN204228906U ,2015-03-25
[2]
一种LED芯片的多路检测系统 [P]. 
董宁 ;
李波 ;
刘攀超 .
中国专利 :CN204228907U ,2015-03-25
[3]
一种LED芯片的多路检测系统 [P]. 
董宁 ;
李波 ;
刘攀超 .
中国专利 :CN104459506A ,2015-03-25
[4]
一种LED芯片检测分析系统 [P]. 
董宁 ;
李波 ;
刘攀超 .
中国专利 :CN204228934U ,2015-03-25
[5]
一种LED芯片检测分析系统 [P]. 
董宁 ;
李波 ;
刘攀超 .
中国专利 :CN104459568A ,2015-03-25
[6]
多路检测系统 [P]. 
沈卫国 ;
陈远谋 .
中国专利 :CN201688896U ,2010-12-29
[7]
芯片检测信号的分配电路及多路检测的芯片检测系统 [P]. 
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中国专利 :CN201654183U ,2010-11-24
[8]
一种LED模组光学性能检测系统 [P]. 
吴启武 .
中国专利 :CN212378998U ,2021-01-19
[9]
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陈青松 .
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[10]
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陶勇 ;
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