一种LED芯片检测分析系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420734451.3

申请日：

2014-11-27

公开(公告)号：

CN204228934U

公开(公告)日：

2015-03-25

发明(设计)人：

董宁李波刘攀超

申请人：

申请人地址：

518101 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋

IPC主分类号：

G01R3144

IPC分类号：

G01R3126 G01M1102

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/44 申请日:20141127 授权公告日:20150325 终止日期:20191127
2016-06-01	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101733431270 IPC(主分类):G01R 31/44 专利号:ZL2014207344513 变更事项:专利权人变更前:深圳市华测检测技术股份有限公司变更后:华测检测认证集团股份有限公司变更事项:地址变更前:518101 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋变更后:518101 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋
2016-06-01	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101733431271 IPC(主分类):G01R 31/44 专利号:ZL2014207344513 登记生效日:20160513 变更事项:专利权人变更前权利人:华测检测认证集团股份有限公司变更后权利人:上海华测品标检测技术有限公司变更事项:地址变更前权利人:518101 广东省深圳市宝安区70区鸿威工业园C栋变更后权利人:200135 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区新金桥路1996号1幢4楼
2015-03-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种LED芯片检测分析系统 [P].

董宁 ;

李波 ;

刘攀超 .

中国专利 :CN104459568A ,2015-03-25

[2]

一种LED芯片的多路检测系统 [P].

董宁 ;

李波 ;

刘攀超 .

中国专利 :CN104459506A ,2015-03-25

[3]

一种LED芯片的多路检测系统 [P].

董宁 ;

李波 ;

刘攀超 .

中国专利 :CN204228907U ,2015-03-25

[4]

一种检测LED芯片光学性能的多路检测系统 [P].

董宁 ;

刘攀超 ;

李波 .

中国专利 :CN204228906U ,2015-03-25

[5]

一种检测LED芯片光学性能的多路检测系统 [P].

董宁 ;

刘攀超 ;

李波 .

中国专利 :CN104459507A ,2015-03-25

[6]

一种针对低压LED灯专用芯片的检测分析系统 [P].

黄梓棋 ;

黄钦阳 ;

黄彬阳 .

中国专利 :CN118759350A ,2024-10-11

[7]

LED芯片快速检测系统 [P].

吴朝兴 ;

苏昊 ;

郭太良 ;

陈荣 ;

张永爱 ;

周雄图 .

中国专利 :CN115656768A ,2023-01-31

[8]

一种芯片功耗检测分析方法及系统 [P].

权磊 ;

陈杨 ;

魏丹江 ;

李朝阳 .

中国专利 :CN120385850A ,2025-07-29

[9]

一种LED芯片检测设备 [P].

刘天明 ;

邓光洪 ;

杨冲 ;

王洪贯 .

中国专利 :CN208066795U ,2018-11-09

[10]

一种LED芯片检测装置 [P].

郝纬 ;

陈隽 ;

胡顺年 .

中国专利 :CN120577322A ,2025-09-02

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