光学性能测试系统及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111140818.X
申请日
2021-09-27
公开(公告)号
CN113848041B
公开(公告)日
2024-04-30
发明(设计)人
彭旭 韩欣欣 董航宇
申请人
歌尔光学科技有限公司
申请人地址
261031 山东省潍坊市高新区清池街道永春社区惠贤路3999号歌尔光电产业园三期1号厂房
IPC主分类号
G01M11/02
IPC分类号
代理机构
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
晏波
法律状态
授权
国省代码
山东省 潍坊市
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共 50 条
[1]
光学性能测试系统及测试方法 [P]. 
彭旭 ;
韩欣欣 ;
董航宇 .
中国专利 :CN113848041A ,2021-12-28
[2]
光学模组的光学性能测试系统及方法 [P]. 
滕雪英 ;
韩欣欣 .
中国专利 :CN113834637A ,2021-12-24
[3]
自适应光学性能测试系统及测试校准切换方法 [P]. 
周阿雄 ;
蔡光明 ;
魏豪明 .
中国专利 :CN120521843A ,2025-08-22
[4]
一种内窥镜光学性能测试系统及测试方法 [P]. 
潘建根 ;
李倩 ;
魏嘉 .
中国专利 :CN115200837B ,2025-12-16
[5]
清洗性能的测试系统及测试方法 [P]. 
肖银良 ;
谢伟藩 ;
邹涛 ;
周海涛 ;
付卫刚 .
中国专利 :CN118090280A ,2024-05-28
[6]
清洗性能的测试系统及测试方法 [P]. 
肖银良 ;
谢伟藩 ;
邹涛 ;
周海涛 ;
付卫刚 .
中国专利 :CN118090280B ,2024-06-28
[7]
光学性能测试设备 [P]. 
陈全伟 ;
张滨 .
中国专利 :CN306058288S ,2020-09-18
[8]
晶圆光学性能测试方法、系统及程序产品 [P]. 
彭涪琳 ;
李安平 ;
杨泽坤 ;
陈杰夫 .
中国专利 :CN121207497A ,2025-12-26
[9]
一种LED芯片光学性能测试方法及系统 [P]. 
彭超 ;
黄胜蓝 ;
谈健 ;
顾胜 .
中国专利 :CN120651500A ,2025-09-16
[10]
一种LED芯片光学性能测试方法及系统 [P]. 
程先金 ;
徐金军 ;
李园刚 ;
张聪 ;
杨重影 .
中国专利 :CN118624181A ,2024-09-10