用于光通讯的激光芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111318500.6

申请日：

2021-11-09

公开(公告)号：

CN114355132B

公开(公告)日：

2024-03-01

发明(设计)人：

黄建军吴永红赵山胡海洋

申请人：

苏州联讯仪器股份有限公司

申请人地址：

215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04

代理机构：

苏州科旭知识产权代理事务所(普通合伙) 32697

代理人：

王健

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-01	授权	授权

共 50 条

[1]

用于光通讯的激光芯片测试系统 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114355132A ,2022-04-15

[2]

光通讯用芯片测试设备 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114325300A ,2022-04-12

[3]

光通讯芯片的测试机构 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114567972A ,2022-05-31

[4]

光通讯芯片的测试机构 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114567972B ,2024-06-04

[5]

光通讯激光器芯片测试机 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114325298A ,2022-04-12

[6]

光通讯激光器芯片测试机 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114325298B ,2024-03-01

[7]

光通讯芯片测试用上下料模组 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN113955490B ,2022-01-21

[8]

光通讯用芯片的老化测试系统 [P].

黄建军 ;

胡海洋 ;

罗跃浩 .

中国专利 :CN113933545B ,2024-03-08

[9]

光通讯用芯片的老化测试系统 [P].

黄建军 ;

胡海洋 ;

罗跃浩 .

中国专利 :CN113933545A ,2022-01-14

[10]

用于光通讯芯片的吸嘴机构 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN216597544U ,2022-05-24

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