光通讯芯片测试用上下料模组

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111302182.4

申请日：

2021-11-04

公开(公告)号：

CN113955490B

公开(公告)日：

2022-01-21

发明(设计)人：

黄建军吴永红赵山胡海洋

申请人：

申请人地址：

215011 江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

B65G4791

IPC分类号：

B65G4774 B65G47244

代理机构：

苏州科旭知识产权代理事务所(普通合伙) 32697

代理人：

王健

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B65G 47/91 申请日:20211104
2023-02-14	授权	授权
2022-01-21	公开	公开

共 50 条

[1]

光通讯用芯片测试设备 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114325300A ,2022-04-12

[2]

一种芯片测试用上下料装置 [P].

冯怒峰 ;

袁志伟 ;

张春建 .

中国专利 :CN221853426U ,2024-10-18

[3]

光通讯激光器芯片测试机 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114325298A ,2022-04-12

[4]

光通讯激光器芯片测试机 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114325298B ,2024-03-01

[5]

光通讯芯片的测试机构 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114567972A ,2022-05-31

[6]

光通讯芯片的测试机构 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114567972B ,2024-06-04

[7]

用于光通讯的激光芯片测试系统 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114355132B ,2024-03-01

[8]

用于光通讯的激光芯片测试系统 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114355132A ,2022-04-15

[9]

光器件测试用芯片运送机构 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114615824A ,2022-06-10

[10]

光通讯芯片贴片用运料装置 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN216600687U ,2022-05-24

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