芯片测试机

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专利类型
发明
申请号
CN201310198205.0
申请日
2013-05-24
公开(公告)号
CN104181453A
公开(公告)日
2014-12-03
发明(设计)人
陈石矶
申请人
申请人地址
中国台湾新竹市科学园区力行路9号2&5楼
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
汤保平
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试机 [P]. 
陈石矶 .
中国专利 :CN203069739U ,2013-07-17
[2]
芯片测试机 [P]. 
李震 ;
陈化良 ;
尤春明 .
中国专利 :CN117572196A ,2024-02-20
[3]
芯片测试机 [P]. 
李震 ;
陈化良 ;
尤春明 .
中国专利 :CN117572196B ,2025-08-05
[4]
芯片测试机 [P]. 
白盛闵 .
中国专利 :CN217787141U ,2022-11-11
[5]
芯片测试机 [P]. 
黄建军 ;
吴永红 ;
赵山 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN113533938A ,2021-10-22
[6]
芯片测试机 [P]. 
陈石矶 .
中国专利 :CN203071048U ,2013-07-17
[7]
芯片测试机 [P]. 
周海龙 ;
刘蛟锋 ;
董敏 .
中国专利 :CN309644459S ,2025-12-02
[8]
芯片测试机构及测试机 [P]. 
张磊 ;
陈波 .
中国专利 :CN216595407U ,2022-05-24
[9]
芯片测试机及芯片测试系统 [P]. 
王晓斌 ;
马彦斌 ;
李鑫 ;
王亮 ;
朱旋虎 .
中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15
[10]
芯片测试机及芯片测试方法 [P]. 
殷岚勇 ;
徐亮 .
中国专利 :CN112444734A ,2021-03-05