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半导体器件的制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811060371.3
申请日
:
2018-09-12
公开(公告)号
:
CN109285773A
公开(公告)日
:
2019-01-29
发明(设计)人
:
李昱廷
却玉蓉
刘怡良
龚昌鸿
陈建勋
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
:
H01L21306
IPC分类号
:
H01L218234
代理机构
:
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
:
郭四华
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-11-24
授权
授权
2019-03-01
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/306 申请日:20180912
2019-01-29
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体器件制造方法
[P].
李亚洲
论文数:
0
引用数:
0
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0
李亚洲
;
姚振海
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姚振海
;
金乐群
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金乐群
;
居碧玉
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居碧玉
;
徐杰
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0
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徐杰
.
中国专利
:CN115410901A
,2022-11-29
[2]
半导体器件的制造方法
[P].
鲍金玉
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
鲍金玉
.
中国专利
:CN119947223A
,2025-05-06
[3]
半导体器件的制造方法
[P].
康俊龙
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康俊龙
;
成鑫华
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成鑫华
;
郝艳霞
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郝艳霞
;
尹俊
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尹俊
;
聂广宇
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聂广宇
.
中国专利
:CN109300782A
,2019-02-01
[4]
半导体器件栅极高度平坦化方法
[P].
李镇全
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李镇全
.
中国专利
:CN109545676B
,2019-03-29
[5]
半导体器件的制造装置及半导体器件的制造方法
[P].
中村理
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中村理
;
伊藤恭介
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伊藤恭介
.
中国专利
:CN101013674A
,2007-08-08
[6]
半导体晶片、半导体器件和半导体器件的制造方法
[P].
中村和子
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中村和子
.
中国专利
:CN1160290A
,1997-09-24
[7]
半导体器件、半导体显示器件及半导体器件的制造方法
[P].
山崎舜平
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山崎舜平
;
宫入秀和
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宫入秀和
.
中国专利
:CN101266982A
,2008-09-17
[8]
一种半导体器件制造方法以及半导体器件
[P].
高斌斌
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机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
高斌斌
;
吴永玉
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机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
吴永玉
.
中国专利
:CN121171884A
,2025-12-19
[9]
半导体器件的制造方法
[P].
郑召星
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郑召星
;
叶彬
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叶彬
;
沈浩
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沈浩
;
董天化
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董天化
.
中国专利
:CN101320709A
,2008-12-10
[10]
半导体器件的制造方法
[P].
向磊
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向磊
;
郭莉莉
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郭莉莉
;
马莉娜
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马莉娜
.
中国专利
:CN112185805A
,2021-01-05
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