半导体器件的制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811060371.3
申请日
2018-09-12
公开(公告)号
CN109285773A
公开(公告)日
2019-01-29
发明(设计)人
李昱廷 却玉蓉 刘怡良 龚昌鸿 陈建勋
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
H01L21306
IPC分类号
H01L218234
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
郭四华
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件制造方法 [P]. 
李亚洲 ;
姚振海 ;
金乐群 ;
居碧玉 ;
徐杰 .
中国专利 :CN115410901A ,2022-11-29
[2]
半导体器件的制造方法 [P]. 
鲍金玉 .
中国专利 :CN119947223A ,2025-05-06
[3]
半导体器件的制造方法 [P]. 
康俊龙 ;
成鑫华 ;
郝艳霞 ;
尹俊 ;
聂广宇 .
中国专利 :CN109300782A ,2019-02-01
[4]
半导体器件栅极高度平坦化方法 [P]. 
李镇全 .
中国专利 :CN109545676B ,2019-03-29
[5]
半导体器件的制造装置及半导体器件的制造方法 [P]. 
中村理 ;
伊藤恭介 .
中国专利 :CN101013674A ,2007-08-08
[6]
半导体晶片、半导体器件和半导体器件的制造方法 [P]. 
中村和子 .
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[7]
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[8]
一种半导体器件制造方法以及半导体器件 [P]. 
高斌斌 ;
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[9]
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郑召星 ;
叶彬 ;
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[10]
半导体器件的制造方法 [P]. 
向磊 ;
郭莉莉 ;
马莉娜 .
中国专利 :CN112185805A ,2021-01-05