内存泄露的检测方法及装置、可读存储介质及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010923437.8
申请日
2020-09-04
公开(公告)号
CN111966603A
公开(公告)日
2020-11-20
发明(设计)人
杨光栋
申请人
申请人地址
310052 浙江省杭州市滨江区网商路599号网易大厦
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
G06F950
代理机构
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
王辉;阚梓瑄
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
内存泄露的检测方法及装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
杨光栋 .
中国专利 :CN111966603B ,2024-01-19
[2]
内存泄露检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李昕越 ;
梁爱武 .
中国专利 :CN112115048A ,2020-12-22
[3]
内存检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
张宇昂 .
中国专利 :CN118363838A ,2024-07-19
[4]
内存泄露的检测方法及装置、电子设备 [P]. 
田友强 ;
徐磊 ;
赵伟 ;
赵社涛 ;
张明 .
中国专利 :CN107423220A ,2017-12-01
[5]
内存泄露检测方法、装置、电子设备及介质 [P]. 
董超 ;
张建亚 ;
徐平 ;
曹雷 ;
闫路丹 .
中国专利 :CN112988490A ,2021-06-18
[6]
内存泄露检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
苟亚明 .
中国专利 :CN111506500A ,2020-08-07
[7]
信息泄露检测方法及装置、存储介质和电子设备 [P]. 
胡建强 ;
闫保奇 ;
徐文想 ;
解佳 .
中国专利 :CN115374430B ,2025-04-01
[8]
信息泄露检测方法及装置、存储介质和电子设备 [P]. 
胡建强 ;
闫保奇 ;
徐文想 ;
解佳 .
中国专利 :CN115374430A ,2022-11-22
[9]
内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 [P]. 
余玉 .
中国专利 :CN112988484A ,2021-06-18
[10]
数据泄露检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
汤代佳 ;
倪仕文 ;
杨敏 ;
宋志朋 .
中国专利 :CN120337045A ,2025-07-18