内存泄露检测方法、装置、电子设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110427950.2

申请日：

2021-04-21

公开(公告)号：

CN112988490A

公开(公告)日：

2021-06-18

发明(设计)人：

董超张建亚徐平曹雷闫路丹

申请人：

申请人地址：

310000 浙江省杭州市拱墅区祥园路88号1幢12层

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

杭州创智卓英知识产权代理事务所(普通合伙) 33324

代理人：

张超

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-17	授权	授权
2021-06-18	公开	公开
2021-07-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20210421

共 50 条

[1]

内存泄露检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李昕越 ;

梁爱武 .

中国专利 :CN112115048A ,2020-12-22

[2]

内存泄露的检测方法及装置、可读存储介质及电子设备 [P].

杨光栋 .

中国专利 :CN111966603A ,2020-11-20

[3]

内存泄露的检测方法及装置、可读存储介质及电子设备 [P].

杨光栋 .

中国专利 :CN111966603B ,2024-01-19

[4]

检测内存泄露方法、装置、可读介质及电子设备 [P].

郎明朗 .

中国专利 :CN114546693A ,2022-05-27

[5]

内存泄露检测方法及电子设备 [P].

朱潇 ;

赵俊民 ;

陈文博 ;

陈刘璨 .

中国专利 :CN117687820B ,2024-10-15

[6]

内存泄露检测方法及电子设备 [P].

朱潇 ;

赵俊民 ;

陈文博 ;

陈刘璨 .

中国专利 :CN117687820A ,2024-03-12

[7]

内存泄露检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

苟亚明 .

中国专利 :CN111506500A ,2020-08-07

[8]

数据泄露检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

汤代佳 ;

倪仕文 ;

杨敏 ;

宋志朋 .

中国专利 :CN120337045A ,2025-07-18

[9]

应用程序内存泄露检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄小婷 .

中国专利 :CN109558308A ,2019-04-02

[10]

内存泄露的检测方法及装置、电子设备 [P].

田友强 ;

徐磊 ;

赵伟 ;

赵社涛 ;

张明 .

中国专利 :CN107423220A ,2017-12-01

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