一种涂层测厚仪电路系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121712766.4
申请日
2021-07-26
公开(公告)号
CN215572680U
公开(公告)日
2022-01-18
发明(设计)人
孙大庆 尹建华
申请人
申请人地址
261061 山东省潍坊市高新区银枫路光电产业园第三加速器5座
IPC主分类号
G01B706
IPC分类号
代理机构
潍坊正信致远知识产权代理有限公司 37255
代理人
贾宝娟
法律状态
授权
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
一种涂层测厚仪用探头数据信号调理电路 [P]. 
孙大庆 ;
尹建华 .
中国专利 :CN214893069U ,2021-11-26
[2]
一种多用涂层测厚仪 [P]. 
张健 ;
杜新安 ;
申韶华 ;
王郁芬 .
中国专利 :CN206656687U ,2017-11-21
[3]
一种涂层测厚仪 [P]. 
周裕昆 .
中国专利 :CN211954085U ,2020-11-17
[4]
一种涂层测厚仪 [P]. 
吴发展 ;
金明建 ;
耿红喜 .
中国专利 :CN216049758U ,2022-03-15
[5]
一种涂层测厚仪 [P]. 
唐建康 ;
宋慧奇 ;
杭小刚 ;
唐佳 ;
岳泽宇 .
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[6]
一种涂层测厚仪 [P]. 
孟凡超 .
中国专利 :CN212843490U ,2021-03-30
[7]
一种涂层测厚仪 [P]. 
罗蕴渊 .
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[8]
一种涂层测厚仪 [P]. 
丁惠群 ;
赵志惠 ;
冯明 ;
金鑫 ;
沈潇彬 .
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[9]
一种涂层测厚仪 [P]. 
饶喜平 ;
谢洁填 .
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[10]
一种涂层测厚仪 [P]. 
国江 .
中国专利 :CN205120028U ,2016-03-30