X荧光光谱分析仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201521113363.2

申请日：

2015-12-29

公开(公告)号：

CN205384236U

公开(公告)日：

2016-07-13

发明(设计)人：

高华余正东

申请人：

申请人地址：

102200 北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

鲁兵

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-07-13	授权	授权

共 50 条

[1]

X射线荧光光谱分析仪 [P].

李福生 ;

徐磊 .

中国专利 :CN307087788S ,2022-01-28

[2]

正比计数管及X荧光光谱分析仪 [P].

吴娜 ;

高华 ;

余正东 .

中国专利 :CN205139055U ,2016-04-06

[3]

一种X荧光光谱分析仪 [P].

赵敏 ;

杨绍雨 .

中国专利 :CN202854069U ,2013-04-03

[4]

一种X荧光光谱分析仪 [P].

张航飞 ;

石如莹 ;

马建州 .

中国专利 :CN210863602U ,2020-06-26

[5]

具有叠片式准直器的X荧光光谱分析仪 [P].

吴娜 .

中国专利 :CN207133210U ,2018-03-23

[6]

一种X荧光光谱分析仪 [P].

梁国炜 .

中国专利 :CN206411038U ,2017-08-15

[7]

X-射线荧光光谱分析仪 [P].

韩晓朋 .

中国专利 :CN204359714U ,2015-05-27

[8]

X‑射线荧光光谱分析仪 [P].

韩晓朋 .

中国专利 :CN104502386B ,2015-04-08

[9]

XRF荧光光谱分析仪 [P].

张波 .

中国专利 :CN308738967S ,2024-07-19

[10]

一种多元素同时测定型X荧光光谱分析仪 [P].

刘小东 ;

白友兆 ;

陈式经 ;

杨李锋 .

中国专利 :CN200968940Y ,2007-10-31

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