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一种多元素同时测定型X荧光光谱分析仪
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN200620134101.9
申请日：
2006-10-18
公开(公告)号：
CN200968940Y
公开(公告)日：
2007-10-31
发明(设计)人：
刘小东
白友兆
陈式经
杨李锋
申请人：
申请人地址：
102200北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区
IPC主分类号：
G01N23223
IPC分类号：
代理机构：
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人：
鲁兵
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2007-10-31 | 授权 | 授权 |
| 2009-05-13 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 变更事项:专利权人 变更前:江苏天瑞信息技术有限公司 变更后:江苏天瑞仪器股份有限公司 变更事项:地址 变更前:江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编:215001 变更后:江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编:215001 |
| 2008-11-12 | 专利申请权、专利权的转移(专利权的转移) | 专利申请权、专利权的转移(专利权的转移) 变更事项:专利权人 变更前权利人:北京邦鑫伟业技术开发有限公司 变更后权利人:江苏天瑞信息技术有限公司 变更事项:地址 变更前:北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区,邮编:102200 变更后:江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦,邮编:215001 登记生效日:20081010 |
| 2017-01-25 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101699580998 IPC(主分类):G01N 23/223 专利号:ZL2006201341019 申请日:20061018 授权公告日:20071031 终止日期:20151018 |