一种具有双平晶固定元素道分光器的X荧光光谱分析仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200920110572.X

申请日：

2009-07-31

公开(公告)号：

CN201464389U

公开(公告)日：

2010-05-12

发明(设计)人：

高华余正东吴娜

申请人：

申请人地址：

102200 北京市昌平区科技园区37号4号楼5层南区

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

鲁兵

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-05-12	授权	授权
2019-08-23	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20090731 授权公告日:20100512

共 50 条

[1]

一种具有双弯晶固定元素道分光器的X荧光光谱分析仪 [P].

高华 ;

余正东 ;

吴娜 .

中国专利 :CN201522461U ,2010-07-07

[2]

一种具有平弯双晶固定元素道分光器的X荧光光谱分析仪 [P].

高华 ;

余正东 ;

吴娜 .

中国专利 :CN201464390U ,2010-05-12

[3]

X荧光光谱分析仪 [P].

高华 ;

余正东 .

中国专利 :CN205384236U ,2016-07-13

[4]

一种用于X荧光光谱分析仪的Fe元素弯晶分光器 [P].

余正东 ;

王嘉勇 ;

张军涛 .

中国专利 :CN204556540U ,2015-08-12

[5]

一种用于X荧光光谱分析仪的Cu元素弯晶分光器 [P].

余正东 ;

王嘉勇 ;

张军涛 .

中国专利 :CN204556541U ,2015-08-12

[6]

一种多元素同时测定型X荧光光谱分析仪 [P].

刘小东 ;

白友兆 ;

陈式经 ;

杨李锋 .

中国专利 :CN200968940Y ,2007-10-31

[7]

一种X荧光光谱分析仪 [P].

赵敏 ;

杨绍雨 .

中国专利 :CN202854069U ,2013-04-03

[8]

具有叠片式准直器的X荧光光谱分析仪 [P].

吴娜 .

中国专利 :CN207133210U ,2018-03-23

[9]

一种X荧光光谱分析仪 [P].

张航飞 ;

石如莹 ;

马建州 .

中国专利 :CN210863602U ,2020-06-26

[10]

一种X荧光光谱分析仪 [P].

梁国炜 .

中国专利 :CN206411038U ,2017-08-15

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