线体导通性能测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202021079973.6

申请日：

2020-06-11

公开(公告)号：

CN212749202U

公开(公告)日：

2021-03-19

发明(设计)人：

苏东科孙晓辉杨全录孙权权

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明新区公明街道长圳社区长兴科技工业园36A栋

IPC主分类号：

G01R3154

IPC分类号：

G01R3158

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542

代理人：

张小容

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-19	授权	授权

共 50 条

[1]

线束导通性测试装置 [P].

尚晓东 ;

董长星 ;

马宏伟 ;

梁志伟 .

中国专利 :CN209606553U ,2019-11-08

[2]

低频线缆组件导通性通用测试装置 [P].

张联 .

中国专利 :CN211180149U ,2020-08-04

[3]

2M线导通性测试装置 [P].

王栋 ;

王天峰 ;

朱雪琴 ;

乔子芩 ;

范子涛 ;

李林阳 ;

孙祥飞 ;

段绪伟 ;

金涛 ;

姜威威 ;

缪刚 ;

桑遥 ;

杨春梅 ;

解鹏 .

中国专利 :CN205246790U ,2016-05-18

[4]

激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置 [P].

王宝杰 ;

刘克富 ;

邱剑 ;

卢元达 ;

张田 .

中国专利 :CN203054147U ,2013-07-10

[5]

线束导通测试装置 [P].

叶志伟 ;

田刚 ;

徐政豪 .

中国专利 :CN205506985U ,2016-08-24

[6]

一种Type-C母端的导通性能测试装置 [P].

张华平 ;

李玄 ;

邵鹏博 .

中国专利 :CN223436092U ,2025-10-14

[7]

一种通用式惯导元器件性能测试装置 [P].

可伟 ;

李会龙 .

中国专利 :CN213902398U ,2021-08-06

[8]

线束延伸性能测试装置 [P].

曹智军 ;

周涛 .

中国专利 :CN202420986U ,2012-09-05

[9]

电池性能测试装置 [P].

苏强 ;

尹擎 ;

马钰汶 .

中国专利 :CN201876529U ,2011-06-22

[10]

一种探针模组导通性能的测试装置及系统 [P].

张洪洋 .

中国专利 :CN218068260U ,2022-12-16

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