低频线缆组件导通性通用测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922214365.5

申请日：

2019-12-10

公开(公告)号：

CN211180149U

公开(公告)日：

2020-08-04

发明(设计)人：

张联

申请人：

申请人地址：

610073 四川省成都市青羊区敬业路218号7栋5层2号

IPC主分类号：

G01R3154

IPC分类号：

G01R3158

代理机构：

成都智言知识产权代理有限公司 51282

代理人：

濮云杉

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-04	授权	授权

共 50 条

[1]

线体导通性能测试装置 [P].

苏东科 ;

孙晓辉 ;

杨全录 ;

孙权权 .

中国专利 :CN212749202U ,2021-03-19

[2]

线束导通性测试装置 [P].

尚晓东 ;

董长星 ;

马宏伟 ;

梁志伟 .

中国专利 :CN209606553U ,2019-11-08

[3]

线缆导通测试装置 [P].

张建宇 ;

张建跃 ;

张致伟 ;

谢洪勋 ;

付宇宽 ;

聂文鹏 ;

陈学军 .

中国专利 :CN109342886A ,2019-02-15

[4]

连接器和导通性测试装置 [P].

榛地阳 ;

松永贵士 .

日本专利 :CN118017267A ,2024-05-10

[5]

用于指纹芯片的导通性测试装置 [P].

王丽 ;

张成 ;

位贤龙 ;

陈松 ;

姚燕杰 .

中国专利 :CN208459520U ,2019-02-01

[6]

通用测试装置以及测试系统 [P].

高艳华 ;

张立博 ;

王祥林 .

中国专利 :CN206378278U ,2017-08-04

[7]

一种线缆导通测试装置 [P].

刘杰 .

中国专利 :CN222704710U ,2025-04-01

[8]

低频噪声测试装置 [P].

李兆成 ;

石强 ;

杨文 ;

黄平 ;

蒋平 .

中国专利 :CN206990690U ,2018-02-09

[9]

通用测试装置 [P].

高合助 ;

李冠兴 .

中国专利 :CN105021848B ,2015-11-04

[10]

铂电阻通用测试装置 [P].

何丹 ;

张建宏 ;

刘俊峰 ;

徐卫东 ;

贺颖颖 ;

龚恒 ;

张岩涛 .

中国专利 :CN212513409U ,2021-02-09

← 1 2 3 4 5 →