光学非破坏检查装置以及光学非破坏检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410163535.0

申请日：

2014-04-22

公开(公告)号：

CN104122296A

公开(公告)日：

2014-10-29

发明(设计)人：

松本直树吉田航也松本顺

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01N2572

IPC分类号：

G01J510 G01N2520

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

李洋;苏琳琳

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-12-14	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101743445769 IPC(主分类):G01N 25/72 专利申请号:2014101635350 申请公布日:20141029
2014-10-29	公开	公开

共 50 条

[1]

光学非破坏检查装置以及光学非破坏检查方法 [P].

松本直树 ;

吉田航也 ;

松本顺 .

中国专利 :CN104122297A ,2014-10-29

[2]

光学式非破坏检查装置以及光学式非破坏检查方法 [P].

松本直树 ;

吉田航也 ;

松本顺 .

中国专利 :CN104111258A ,2014-10-22

[3]

光学式非破坏检查方法以及光学式非破坏检查装置 [P].

松本直树 ;

吉田航也 .

中国专利 :CN104155343A ,2014-11-19

[4]

光学非破坏检查方法以及光学非破坏检查装置 [P].

松本直树 ;

松本顺 ;

吉田航也 ;

濑尾良太郎 .

中国专利 :CN105136858A ,2015-12-09

[5]

光学非破坏检查方法以及光学非破坏检查装置 [P].

松本直树 ;

梅泽良太 ;

黑田大介 ;

大原宽司 .

中国专利 :CN109270081A ,2019-01-25

[6]

非破坏检查装置及非破坏检查方法 [P].

服部英敬 ;

堀苑英毅 ;

金升将征 ;

松原重行 ;

筱田邦彦 ;

藤垣博敏 ;

龙王晋 .

中国专利 :CN102216766A ,2011-10-12

[7]

非破坏检查装置和非破坏检查方法 [P].

二川清 .

中国专利 :CN1959395A ,2007-05-09

[8]

非接触非破坏检查系统、信号处理装置以及非接触非破坏检查方法 [P].

碓井隆 ;

大野博司 ;

渡部一雄 .

日本专利 :CN114364979B ,2024-07-26

[9]

非接触非破坏检查系统、信号处理装置以及非接触非破坏检查方法 [P].

碓井隆 ;

大野博司 ;

渡部一雄 .

中国专利 :CN114364979A ,2022-04-15

[10]

非破坏检查装置 [P].

染谷幸夫 ;

篠原正治 ;

半杭秀一 ;

永田航平 ;

新井隆行 .

中国专利 :CN113399315A ,2021-09-17

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