非接触非破坏检查系统、信号处理装置以及非接触非破坏检查方法

被引：0

申请号：

CN202080059865.9

申请日：

2020-05-29

公开(公告)号：

CN114364979A

公开(公告)日：

2022-04-15

发明(设计)人：

碓井隆大野博司渡部一雄

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2914

IPC分类号：

G01N2944

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

孙蕾

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-15	公开	公开
2022-05-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 29/14 申请日:20200529

共 50 条

[1]

非接触非破坏检查系统、信号处理装置以及非接触非破坏检查方法 [P].

碓井隆 ;

大野博司 ;

渡部一雄 .

日本专利 :CN114364979B ,2024-07-26

[2]

光学非破坏检查装置以及光学非破坏检查方法 [P].

松本直树 ;

吉田航也 ;

松本顺 .

中国专利 :CN104122296A ,2014-10-29

[3]

光学非破坏检查装置以及光学非破坏检查方法 [P].

松本直树 ;

吉田航也 ;

松本顺 .

中国专利 :CN104122297A ,2014-10-29

[4]

非破坏检查装置及非破坏检查方法 [P].

服部英敬 ;

堀苑英毅 ;

金升将征 ;

松原重行 ;

筱田邦彦 ;

藤垣博敏 ;

龙王晋 .

中国专利 :CN102216766A ,2011-10-12

[5]

非破坏检查装置和非破坏检查方法 [P].

二川清 .

中国专利 :CN1959395A ,2007-05-09

[6]

光学非破坏检查方法以及光学非破坏检查装置 [P].

松本直树 ;

梅泽良太 ;

黑田大介 ;

大原宽司 .

中国专利 :CN109270081A ,2019-01-25

[7]

光学非破坏检查方法以及光学非破坏检查装置 [P].

松本直树 ;

松本顺 ;

吉田航也 ;

濑尾良太郎 .

中国专利 :CN105136858A ,2015-12-09

[8]

光学式非破坏检查装置以及光学式非破坏检查方法 [P].

松本直树 ;

吉田航也 ;

松本顺 .

中国专利 :CN104111258A ,2014-10-22

[9]

光学式非破坏检查方法以及光学式非破坏检查装置 [P].

松本直树 ;

吉田航也 .

中国专利 :CN104155343A ,2014-11-19

[10]

非破坏检查系统 [P].

浅野英久 ;

二宫悠 ;

伊藤达志 ;

大西哲雄 .

中国专利 :CN112198230A ,2021-01-08

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