一种MRAM芯片及其测试方法

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专利类型
发明
申请号
CN201610675040.5
申请日
2016-08-16
公开(公告)号
CN107767918A
公开(公告)日
2018-03-06
发明(设计)人
戴瑾
申请人
申请人地址
201800 上海市嘉定区城北路235号二号楼二层
IPC主分类号
G11C2912
IPC分类号
G11C1116
代理机构
上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287
代理人
于晓菁
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种MRAM芯片及其自测试方法 [P]. 
戴瑾 ;
叶力 ;
俞华樑 .
中国专利 :CN107516545A ,2017-12-26
[2]
一种MRAM芯片及其自刷新操作方法 [P]. 
郭一民 ;
戴瑾 .
中国专利 :CN105632546A ,2016-06-01
[3]
一种MRAM芯片及其自刷新方法 [P]. 
戴瑾 ;
叶力 .
中国专利 :CN107516539A ,2017-12-26
[4]
一种MRAM芯片、内容寻址纠错方法及SOC芯片 [P]. 
戴瑾 .
中国专利 :CN108074605A ,2018-05-25
[5]
一种具有搜索功能的MRAM芯片及搜索方法 [P]. 
戴瑾 .
中国专利 :CN107342102A ,2017-11-10
[6]
一种具有替换行或列的MRAM芯片及替换、读写方法 [P]. 
戴瑾 .
中国专利 :CN105609129A ,2016-05-25
[7]
具有内容寻址功能的MRAM芯片及内容寻址方法 [P]. 
戴瑾 .
中国专利 :CN105609130A ,2016-05-25
[8]
一种MRAM芯片 [P]. 
戴瑾 ;
俞华樑 ;
叶力 ;
郭一民 ;
陈峻 .
中国专利 :CN107958681A ,2018-04-24
[9]
MRAM芯片的测试方法及MRAM芯片 [P]. 
付婷 ;
韩谷昌 ;
王明 ;
杨晓蕾 .
中国专利 :CN118866069A ,2024-10-29
[10]
MRAM芯片的测试方法和MRAM芯片 [P]. 
韩谷昌 ;
曹倩 ;
杨晓蕾 ;
王明 .
中国专利 :CN118824337A ,2024-10-22