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一种磁瓦外观缺陷检测结构
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910486994.5
申请日：
2019-06-05
公开(公告)号：
CN110108725A
公开(公告)日：
2019-08-09
发明(设计)人：
汤培欢
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区西丽街道中山园路1001号TCL国际E城G4栋A单元902室
IPC主分类号：
G01N2195
IPC分类号：
G01N2188
代理机构：
北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491
代理人：
赵红霞
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-08-09 | 公开 | 公开 |
| 2019-09-03 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/95 申请日:20190605 |