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一种磁瓦外观缺陷检测结构

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201920846277.4
申请日：
2019-06-05
公开(公告)号：
CN210198992U
公开(公告)日：
2020-03-27
发明(设计)人：
汤培欢
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区西丽街道中山园路1001号TCL国际E城G4栋A单元902室
IPC主分类号：
G01N2195
IPC分类号：
G01N2188
代理机构：
北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491
代理人：
赵红霞
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2020-03-27 授权 授权
共 50 条
[1]
一种磁瓦外观缺陷检测结构 [P]. 
汤培欢 .
中国专利 :CN110108725A ,2019-08-09
[2]
磁瓦外观缺陷检测装置 [P]. 
岳来鹏 ;
刘鑫 .
中国专利 :CN213223295U ,2021-05-18
[3]
磁瓦外观缺陷检测系统 [P]. 
窦瑞金 .
中国专利 :CN209624413U ,2019-11-12
[4]
一种磁瓦外观缺陷检测机 [P]. 
牛利博 ;
厉力波 ;
林百煌 .
中国专利 :CN208513087U ,2019-02-19
[5]
一种磁瓦外观缺陷检测设备 [P]. 
苏建林 ;
童辰辰 ;
赵曙光 .
中国专利 :CN209356423U ,2019-09-06
[6]
一种磁瓦外观缺陷智能检测装置 [P]. 
于军 .
中国专利 :CN213398244U ,2021-06-08
[7]
一种适用于磁瓦外观缺陷检测系统 [P]. 
杨海涛 ;
厉力波 ;
林百煌 .
中国专利 :CN205538717U ,2016-08-31
[8]
一种磁瓦外观缺陷自动检测系统 [P]. 
杨海涛 ;
厉力波 ;
林百煌 .
中国专利 :CN205518688U ,2016-08-31
[9]
一种自动调整方向的磁瓦外观缺陷检测装置 [P]. 
汤培欢 .
中国专利 :CN210322834U ,2020-04-14
[10]
一种磁瓦缺陷检测装置 [P]. 
朱焱 ;
叶敏 ;
夏明芳 ;
汤伟 ;
温从众 .
中国专利 :CN223346771U ,2025-09-16
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