共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
磁瓦外观缺陷检测系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201822187740.7
申请日：
2018-12-25
公开(公告)号：
CN209624413U
公开(公告)日：
2019-11-12
发明(设计)人：
窦瑞金
申请人：
申请人地址：
211200 江苏省南京市溧水区洪兰镇小茅山
IPC主分类号：
G01N2188
IPC分类号：
代理机构：
北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265
代理人：
倪钜芳
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-11-12 | 授权 | 授权 |