一种自动化芯片测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202020579208.4
申请日
2020-04-17
公开(公告)号
CN212160007U
公开(公告)日
2020-12-15
发明(设计)人
黄辉
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙岗区横岗街道志盛社区隆盛花园兴龙阁5A
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片自动化测试装置 [P]. 
许新颜 .
中国专利 :CN213459696U ,2021-06-15
[2]
一种芯片自动化测试装置 [P]. 
林瑾 .
中国专利 :CN216117888U ,2022-03-22
[3]
一种自动化芯片测试装置 [P]. 
鲁敏 ;
王艳龙 ;
戈静夫 ;
陈士燕 .
中国专利 :CN222287996U ,2025-01-03
[4]
一种非标芯片自动化测试装置 [P]. 
吴树兴 ;
陈敏华 .
中国专利 :CN212989569U ,2021-04-16
[5]
自动化芯片测试装置 [P]. 
彭兴义 .
中国专利 :CN214845616U ,2021-11-23
[6]
芯片自动化测试装置 [P]. 
张正兵 ;
顾梦甜 ;
吕娟娟 .
中国专利 :CN119575140A ,2025-03-07
[7]
自动化芯片测试装置及自动化芯片测试方法 [P]. 
请求不公布姓名 ;
黄学楼 ;
刘春容 ;
陈思桦 .
中国专利 :CN119716475A ,2025-03-28
[8]
用于自动化芯片测试的测试装置 [P]. 
许晓旋 ;
李承翰 ;
李斌 .
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[9]
一种自动化芯片测试装置 [P]. 
顾培东 ;
徐建新 .
中国专利 :CN220795401U ,2024-04-16
[10]
一种自动化芯片测试装置 [P]. 
郭虎 ;
李建伟 ;
宋银浩 .
中国专利 :CN222259511U ,2024-12-27