用于自动化芯片测试的测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420506222.X

申请日：

2024-03-14

公开(公告)号：

CN222014383U

公开(公告)日：

2024-11-15

发明(设计)人：

许晓旋李承翰李斌

申请人：

深圳市宏旺微电子有限公司

申请人地址：

518100 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区白石路3609号深圳湾科技生态园二区9栋B2306

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/02

代理机构：

深圳市倡创专利代理事务所(普通合伙) 44660

代理人：

罗明玉

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-15	授权	授权

共 50 条

[1]

自动化芯片测试装置及自动化芯片测试方法 [P].

请求不公布姓名 ;

黄学楼 ;

刘春容 ;

陈思桦 .

中国专利 :CN119716475A ,2025-03-28

[2]

自动化芯片测试装置 [P].

彭兴义 .

中国专利 :CN214845616U ,2021-11-23

[3]

芯片自动化测试装置 [P].

张正兵 ;

顾梦甜 ;

吕娟娟 .

中国专利 :CN119575140A ,2025-03-07

[4]

一种自动化芯片测试装置 [P].

顾培东 ;

徐建新 .

中国专利 :CN220795401U ,2024-04-16

[5]

一种芯片自动化测试装置 [P].

许新颜 .

中国专利 :CN213459696U ,2021-06-15

[6]

一种芯片自动化测试装置 [P].

林瑾 .

中国专利 :CN216117888U ,2022-03-22

[7]

一种自动化芯片测试装置 [P].

鲁敏 ;

王艳龙 ;

戈静夫 ;

陈士燕 .

中国专利 :CN222287996U ,2025-01-03

[8]

一种自动化芯片测试装置 [P].

黄辉 .

中国专利 :CN212160007U ,2020-12-15

[9]

一种自动化存储芯片测试装置 [P].

杨密凯 .

中国专利 :CN216956928U ,2022-07-12

[10]

仪表自动化测试装置 [P].

冯立英 .

中国专利 :CN210570783U ,2020-05-19

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