测试电路及测试设备

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专利类型
实用新型
申请号
CN202023086201.8
申请日
2020-12-17
公开(公告)号
CN214046000U
公开(公告)日
2021-08-24
发明(设计)人
李少昆
申请人
申请人地址
523808 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业北路9号
IPC主分类号
H04R2900
IPC分类号
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
朱颖;黄健
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试电路及测试设备 [P]. 
陈登 ;
韩晓俊 .
中国专利 :CN207742566U ,2018-08-17
[2]
测试电路、测试方法及测试设备 [P]. 
侯闯明 .
中国专利 :CN117761483A ,2024-03-26
[3]
芯片测试电路、芯片及测试设备 [P]. 
严波 ;
罗浚洲 ;
王悦 .
中国专利 :CN115267498B ,2025-07-01
[4]
暂态过电压测试电路及暂态过电压测试设备 [P]. 
吴玉芹 ;
杨直文 ;
唐子龙 .
中国专利 :CN205067678U ,2016-03-02
[5]
功率模块循环测试电路及测试设备 [P]. 
苏宇泉 ;
冯宇翔 ;
毕晓猛 .
中国专利 :CN208060663U ,2018-11-06
[6]
测试电路、测试板及测试系统 [P]. 
官勐杰 ;
刘敏 ;
齐鲁欣 .
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[7]
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蔡天昊 ;
卢战勇 ;
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张楠赓 .
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[8]
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陈跃俊 ;
巩志远 ;
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[9]
测试电路、测试设备以及测试电路测试方法 [P]. 
陈跃俊 .
中国专利 :CN113176487A ,2021-07-27
[10]
测试电路、测试设备以及测试电路测试方法 [P]. 
陈跃俊 ;
郝瑞庭 .
中国专利 :CN113176489A ,2021-07-27