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测试电路及测试设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202023086201.8
申请日
:
2020-12-17
公开(公告)号
:
CN214046000U
公开(公告)日
:
2021-08-24
发明(设计)人
:
李少昆
申请人
:
申请人地址
:
523808 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业北路9号
IPC主分类号
:
H04R2900
IPC分类号
:
代理机构
:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
:
朱颖;黄健
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-24
授权
授权
共 50 条
[1]
测试电路及测试设备
[P].
陈登
论文数:
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陈登
;
韩晓俊
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韩晓俊
.
中国专利
:CN207742566U
,2018-08-17
[2]
测试电路、测试方法及测试设备
[P].
侯闯明
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
侯闯明
.
中国专利
:CN117761483A
,2024-03-26
[3]
芯片测试电路、芯片及测试设备
[P].
严波
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机构:
普源精电科技股份有限公司
普源精电科技股份有限公司
严波
;
罗浚洲
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机构:
普源精电科技股份有限公司
普源精电科技股份有限公司
罗浚洲
;
论文数:
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机构:
王悦
.
中国专利
:CN115267498B
,2025-07-01
[4]
暂态过电压测试电路及暂态过电压测试设备
[P].
吴玉芹
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吴玉芹
;
杨直文
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杨直文
;
唐子龙
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唐子龙
.
中国专利
:CN205067678U
,2016-03-02
[5]
功率模块循环测试电路及测试设备
[P].
苏宇泉
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苏宇泉
;
冯宇翔
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冯宇翔
;
毕晓猛
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毕晓猛
.
中国专利
:CN208060663U
,2018-11-06
[6]
测试电路、测试板及测试系统
[P].
官勐杰
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官勐杰
;
刘敏
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刘敏
;
齐鲁欣
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齐鲁欣
.
中国专利
:CN114994510A
,2022-09-02
[7]
仿真信号测试电路、测试方法、测试设备及存储介质
[P].
蔡天昊
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蔡天昊
;
卢战勇
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卢战勇
;
陈京好
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陈京好
;
张楠赓
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张楠赓
.
中国专利
:CN115684878A
,2023-02-03
[8]
测试电路、测试设备以及测试电路测试方法
[P].
陈跃俊
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陈跃俊
;
巩志远
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巩志远
;
刘兴
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刘兴
;
袁鑫
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袁鑫
.
中国专利
:CN113176488A
,2021-07-27
[9]
测试电路、测试设备以及测试电路测试方法
[P].
陈跃俊
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陈跃俊
.
中国专利
:CN113176487A
,2021-07-27
[10]
测试电路、测试设备以及测试电路测试方法
[P].
陈跃俊
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陈跃俊
;
郝瑞庭
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郝瑞庭
.
中国专利
:CN113176489A
,2021-07-27
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