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测试电路、测试设备以及测试电路测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110483061.8
申请日：
2021-04-30
公开(公告)号：
CN113176487A
公开(公告)日：
2021-07-27
发明(设计)人：
陈跃俊
申请人：
申请人地址：
100071 北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
代理机构：
北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人：
樊春燕
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-08-13 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20210430 |
| 2021-07-27 | 公开 | 公开 |