一种薄膜厚度测量装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202121380296.6
申请日
2021-06-21
公开(公告)号
CN215447841U
公开(公告)日
2022-01-07
发明(设计)人
严钊洋 王月宣
申请人
申请人地址
523000 广东省东莞市万江区新和社区创业工业园盛丰路1号8楼
IPC主分类号
G01B2108
IPC分类号
代理机构
广东莞信律师事务所 44332
代理人
方小明
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种石墨烯薄膜厚度测量装置 [P]. 
夏中均 ;
刘学涌 ;
郑代芳 ;
彭勇 ;
邱兴旭 .
中国专利 :CN216206062U ,2022-04-05
[2]
一种薄膜厚度测量装置 [P]. 
申振锁 ;
周宏铎 .
中国专利 :CN209432048U ,2019-09-24
[3]
一种薄膜厚度测量设备 [P]. 
陈崇武 ;
陈庆领 ;
章显帅 ;
吴克钻 ;
袁庆祝 ;
计丕坤 .
中国专利 :CN216410128U ,2022-04-29
[4]
一种电容薄膜镀层厚度测量装置 [P]. 
朱啸天 .
中国专利 :CN222689140U ,2025-03-28
[5]
一种厚度测量装置 [P]. 
王绍龙 ;
陈伟健 ;
商一杗 .
中国专利 :CN222865803U ,2025-05-13
[6]
一种厚度测量装置 [P]. 
张宏 ;
钟贤洪 ;
戴叶明 .
中国专利 :CN216348257U ,2022-04-19
[7]
薄膜厚度测量装置 [P]. 
肖青 ;
傅谦 ;
张大龙 ;
王兴龙 .
中国专利 :CN204043623U ,2014-12-24
[8]
薄膜厚度测量装置 [P]. 
郑志远 ;
樊振军 ;
张自力 .
中国专利 :CN202041181U ,2011-11-16
[9]
一种石墨烯薄膜的厚度测量装置 [P]. 
夏中均 ;
邱兴旭 ;
张剑 ;
郑代芳 ;
潘鑫 ;
王志 .
中国专利 :CN223283603U ,2025-08-29
[10]
一种漆膜厚度测量装置 [P]. 
周国治 ;
杜高平 ;
邢建阳 .
中国专利 :CN220582064U ,2024-03-12