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等离子处理装置用晶座
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN201530423501.6
申请日
:
2015-10-29
公开(公告)号
:
CN303612711S
公开(公告)日
:
2016-03-09
发明(设计)人
:
田内勤
植村崇
佐藤浩平
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
1599
IPC分类号
:
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
丁文蕴;许凯
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-03-09
授权
授权
共 50 条
[1]
等离子处理装置用下气室
[P].
田内勤
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田内勤
;
植村崇
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植村崇
;
佐藤浩平
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佐藤浩平
.
中国专利
:CN303605935S
,2016-03-02
[2]
等离子处理装置用环盖
[P].
田内勤
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田内勤
;
植村崇
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植村崇
;
佐藤浩平
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佐藤浩平
.
中国专利
:CN303655665S
,2016-04-27
[3]
等离子处理装置用上气室
[P].
田内勤
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田内勤
;
植村崇
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植村崇
;
佐藤浩平
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佐藤浩平
.
中国专利
:CN303655666S
,2016-04-27
[4]
等离子处理装置用上气室
[P].
植村崇
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植村崇
;
佐藤浩平
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佐藤浩平
;
田内勤
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田内勤
.
中国专利
:CN304062058S
,2017-03-01
[5]
等离子处理装置以及等离子处理方法
[P].
中谷信太郎
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
中谷信太郎
;
一野贵雅
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
一野贵雅
;
近藤勇树
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
近藤勇树
.
日本专利
:CN119905448A
,2025-04-29
[6]
等离子处理装置以及等离子处理方法
[P].
福地功祐
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福地功祐
;
朝仓凉次
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朝仓凉次
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江藤宗一郎
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江藤宗一郎
;
冈本翔
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冈本翔
;
臼井建人
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臼井建人
;
中元茂
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中元茂
.
中国专利
:CN114360993A
,2022-04-15
[7]
等离子处理装置以及等离子处理方法
[P].
福地功祐
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
福地功祐
;
朝仓凉次
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
朝仓凉次
;
江藤宗一郎
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
江藤宗一郎
;
冈本翔
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
冈本翔
;
臼井建人
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
臼井建人
;
中元茂
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
中元茂
.
日本专利
:CN114360993B
,2025-03-25
[8]
等离子处理装置以及等离子处理方法
[P].
中谷信太郎
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
中谷信太郎
;
一野贵雅
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
一野贵雅
;
近藤勇树
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
近藤勇树
.
日本专利
:CN115398602B
,2025-02-21
[9]
等离子处理装置以及等离子处理方法
[P].
中谷信太郎
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中谷信太郎
;
一野贵雅
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一野贵雅
;
近藤勇树
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近藤勇树
.
中国专利
:CN115398602A
,2022-11-25
[10]
等离子处理装置套环
[P].
中村勤
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中村勤
;
田内勤
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田内勤
;
牧野昭孝
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牧野昭孝
.
中国专利
:CN3605337D
,2007-01-31
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