翻转式芯片检测治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621476366.7

申请日：

2016-12-30

公开(公告)号：

CN206311729U

公开(公告)日：

2017-07-07

发明(设计)人：

陈东李琳王凯陈松王海昌

申请人：

申请人地址：

215143 江苏省苏州市相城经济技术开发区漕湖产业园方桥路568号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司 32103

代理人：

马明渡;王健

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20161230 授权公告日:20170707 终止日期:20181230
2017-07-07	授权	授权

共 50 条

[1]

具有扫码装置的翻转式芯片检测治具 [P].

陈东 ;

王海昌 ;

陈松 ;

姚燕杰 ;

王凯 ;

姜海光 .

中国专利 :CN208270716U ,2018-12-21

[2]

指纹芯片性能检测治具 [P].

陈东 ;

李琳 ;

王凯 ;

王海昌 ;

袁涛 .

中国专利 :CN206311723U ,2017-07-07

[3]

可翻转的指纹芯片性能检测装置 [P].

陈东 ;

李琳 ;

王凯 ;

陈松 ;

王海昌 .

中国专利 :CN206573682U ,2017-10-20

[4]

翻盖式芯片检测治具 [P].

李琳 ;

姜海光 ;

陈东 ;

王海昌 .

中国专利 :CN206311636U ,2017-07-07

[5]

弹压式芯片检测取拿治具 [P].

瞿勇铣 ;

吴金铭 ;

龙立俊 ;

葛柱 ;

吴小红 .

中国专利 :CN117630638A ,2024-03-01

[6]

芯片测试治具 [P].

张磊 ;

庄爱萍 .

中国专利 :CN216595194U ,2022-05-24

[7]

芯片检测治具 [P].

李志军 ;

刘超 ;

余南浔 .

中国专利 :CN222299649U ,2025-01-03

[8]

芯片检测治具 [P].

李志军 ;

刘超 ;

余南浔 .

中国专利 :CN222825568U ,2025-05-02

[9]

芯片检测治具 [P].

李志军 ;

刘超 ;

余南浔 .

中国专利 :CN222774596U ,2025-04-18

[10]

智能手机指纹芯片翻转测试装置 [P].

陈东 ;

李琳 ;

王凯 ;

陈松 ;

王海昌 .

中国专利 :CN206331089U ,2017-07-14

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