芯片检测治具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420713066.4
申请日
2024-04-08
公开(公告)号
CN222774596U
公开(公告)日
2025-04-18
发明(设计)人
李志军 刘超 余南浔
申请人
深圳市昂科技术有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区高新中区麻雀岭工业区3层A1区
IPC主分类号
G01R1/02
IPC分类号
G01R31/28 G01R1/04 H05K7/20
代理机构
广东金穗知识产权代理事务所(普通合伙) 44852
代理人
胡洋
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
芯片检测治具 [P]. 
李志军 ;
刘超 ;
余南浔 .
中国专利 :CN222299649U ,2025-01-03
[2]
芯片检测治具 [P]. 
李志军 ;
刘超 ;
余南浔 .
中国专利 :CN222825568U ,2025-05-02
[3]
指纹芯片性能检测治具 [P]. 
陈东 ;
李琳 ;
王凯 ;
王海昌 ;
袁涛 .
中国专利 :CN206311723U ,2017-07-07
[4]
翻转式芯片检测治具 [P]. 
陈东 ;
李琳 ;
王凯 ;
陈松 ;
王海昌 .
中国专利 :CN206311729U ,2017-07-07
[5]
一种芯片检测治具及裸片检测治具 [P]. 
秦晓亮 .
中国专利 :CN223461618U ,2025-10-21
[6]
一种芯片检测治具 [P]. 
向剑 .
中国专利 :CN209028178U ,2019-06-25
[7]
一种芯片检测治具 [P]. 
葛肖峰 .
中国专利 :CN213423393U ,2021-06-11
[8]
一种芯片检测治具 [P]. 
胡志东 .
中国专利 :CN215004166U ,2021-12-03
[9]
翻盖式芯片检测治具 [P]. 
李琳 ;
姜海光 ;
陈东 ;
王海昌 .
中国专利 :CN206311636U ,2017-07-07
[10]
一种芯片检测治具 [P]. 
朱琳 .
中国专利 :CN212391508U ,2021-01-22