电路板测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201922083542.0
申请日
2019-11-26
公开(公告)号
CN211577333U
公开(公告)日
2020-09-25
发明(设计)人
金章 王成勇 罗斌 王双林 余晋磊
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区侨城东路99号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人
钟子敏
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
电路板测试装置 [P]. 
黄寅 ;
徐德俊 ;
周岳平 ;
董金伟 .
中国专利 :CN103744011A ,2014-04-23
[2]
电路板测试装置 [P]. 
许志斌 .
中国专利 :CN207717924U ,2018-08-10
[3]
电路板测试装置 [P]. 
李振宇 ;
李俊烨 ;
杨非 .
中国专利 :CN117849597B ,2024-07-09
[4]
电路板测试装置 [P]. 
李振宇 ;
李俊烨 ;
杨非 .
中国专利 :CN117849597A ,2024-04-09
[5]
电路板测试装置 [P]. 
宋正荣 .
中国专利 :CN214622929U ,2021-11-05
[6]
电路板测试装置 [P]. 
黄寅 ;
徐德俊 ;
周岳平 ;
董金伟 .
中国专利 :CN203673036U ,2014-06-25
[7]
电路板功能测试装置 [P]. 
文立冬 ;
杨建清 ;
王云 .
中国专利 :CN215116626U ,2021-12-10
[8]
电路板孔径测试装置 [P]. 
何剑侠 .
中国专利 :CN205279955U ,2016-06-01
[9]
电路板测试装置 [P]. 
彭卫平 .
中国专利 :CN206515370U ,2017-09-22
[10]
电路板测试装置 [P]. 
肖红征 .
中国专利 :CN213302435U ,2021-05-28