电路板测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201310745282.3
申请日
2013-12-30
公开(公告)号
CN103744011A
公开(公告)日
2014-04-23
发明(设计)人
黄寅 徐德俊 周岳平 董金伟
申请人
申请人地址
200233 上海市徐汇区虹漕路41号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
上海申汇专利代理有限公司 31001
代理人
吴宝根;王晶
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
电路板测试装置 [P]. 
黄寅 ;
徐德俊 ;
周岳平 ;
董金伟 .
中国专利 :CN203673036U ,2014-06-25
[2]
电路板测试装置 [P]. 
李振宇 ;
李俊烨 ;
杨非 .
中国专利 :CN117849597B ,2024-07-09
[3]
电路板测试装置 [P]. 
李振宇 ;
李俊烨 ;
杨非 .
中国专利 :CN117849597A ,2024-04-09
[4]
电路板测试装置 [P]. 
宋正荣 .
中国专利 :CN214622929U ,2021-11-05
[5]
电路板测试装置 [P]. 
金章 ;
王成勇 ;
罗斌 ;
王双林 ;
余晋磊 .
中国专利 :CN211577333U ,2020-09-25
[6]
电路板孔径测试装置 [P]. 
何剑侠 .
中国专利 :CN205279955U ,2016-06-01
[7]
电路板测试装置 [P]. 
彭卫平 .
中国专利 :CN206515370U ,2017-09-22
[8]
电路板测试装置 [P]. 
肖红征 .
中国专利 :CN213302435U ,2021-05-28
[9]
电路板测试装置 [P]. 
许有罗 .
中国专利 :CN209342866U ,2019-09-03
[10]
电路板测试装置 [P]. 
潘建纯 ;
周海清 ;
涂一新 .
中国专利 :CN102955122A ,2013-03-06