测试方法、电子设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010170789.0

申请日：

2020-03-12

公开(公告)号：

CN111367812A

公开(公告)日：

2020-07-03

发明(设计)人：

鞠鑫

申请人：

申请人地址：

100080 北京市海淀区海淀北一街2号爱奇艺创新大厦10、11层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

许静;黄灿

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20200312
2020-07-03	公开	公开

共 50 条

[1]

接口测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李小满 ;

郑扬 ;

贾玉 ;

钱岭 .

中国专利 :CN117459416A ,2024-01-26

[2]

测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

问王博 .

中国专利 :CN117452918A ,2024-01-26

[3]

测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

黄燊 ;

庄镇铭 ;

詹灯辉 ;

张文智 ;

梁华文 .

中国专利 :CN117408016A ,2024-01-16

[4]

设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张利 ;

李丹丹 ;

万诚 .

中国专利 :CN117491780A ,2024-02-02

[5]

固态硬盘测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

李家敏 .

中国专利 :CN112559266A ,2021-03-26

[6]

设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

薛雨 ;

袁俊卿 .

中国专利 :CN119917415A ,2025-05-02

[7]

对象测试方法、测试系统、电子设备及可读存储介质 [P].

刘成科 ;

郑彩平 ;

张娇昱 ;

宋弘毅 .

中国专利 :CN112988604B ,2024-04-02

[8]

测试方法、测试装置、电子设备及可读存储介质 [P].

钟瑞 ;

郑重 ;

刘明磊 ;

陈壮壮 .

中国专利 :CN111813694A ,2020-10-23

[9]

测试方法、测试装置、电子设备及可读存储介质 [P].

钟瑞 ;

郑重 ;

刘明磊 ;

陈壮壮 .

中国专利 :CN111813694B ,2024-03-15

[10]

对象测试方法、测试系统、电子设备及可读存储介质 [P].

刘成科 ;

郑彩平 ;

张娇昱 ;

宋弘毅 .

中国专利 :CN112988604A ,2021-06-18

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