测试程序生成方法、装置及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810202947.9

申请日：

2018-03-13

公开(公告)号：

CN110275818A

公开(公告)日：

2019-09-24

发明(设计)人：

徐成华王朋宇吴瑞阳

申请人：

申请人地址：

100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

杨泽;刘芳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20180313
2019-09-24	公开	公开
2021-02-09	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:龙芯中科技术有限公司变更后:龙芯中科技术股份有限公司变更事项:地址变更前:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼变更后:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼

共 50 条

[1]

测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

周文 ;

余望好 .

中国专利 :CN120578599A ,2025-09-02

[2]

测试程序生成方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

刘昭 ;

邹权臣 ;

王旋 ;

张德岳 ;

杨东东 .

中国专利 :CN120144471A ,2025-06-13

[3]

可控测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

周文 ;

余望好 .

中国专利 :CN120596383A ,2025-09-05

[4]

测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN111198787B ,2020-05-26

[5]

测试程序生成方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

刘艺 .

中国专利 :CN109753437B ,2024-06-25

[6]

测试程序生成方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

刘艺 .

中国专利 :CN109753437A ,2019-05-14

[7]

芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李超 .

中国专利 :CN119847843A ,2025-04-18

[8]

测试程序的生成方法、装置、电子装置及存储介质 [P].

陈量聪 .

中国专利 :CN119512850B ,2025-07-29

[9]

测试程序的生成方法、装置、电子装置及存储介质 [P].

陈量聪 .

中国专利 :CN119512850A ,2025-02-25

[10]

一种测试程序生成方法、装置、设备和可读存储介质 [P].

韩静盟 ;

姚婉宁 ;

杜方舟 .

中国专利 :CN115017053A ,2022-09-06

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