芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411928153.2

申请日：

2024-12-25

公开(公告)号：

CN119847843A

公开(公告)日：

2025-04-18

发明(设计)人：

李超

申请人：

普冉半导体(上海)股份有限公司

申请人地址：

201000 上海市浦东新区申江路5005弄1号9层整层(实际楼层8楼)

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/263

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

张欣欣

法律状态：

公开

国省代码：

上海市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-18	公开	公开
2025-05-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20241225

共 50 条

[1]

一种芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

章晨杰 ;

张清华 ;

刘翔 .

中国专利 :CN117806961A ,2024-04-02

[2]

测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN111198787B ,2020-05-26

[3]

测试程序生成方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

刘艺 .

中国专利 :CN109753437B ,2024-06-25

[4]

测试程序生成方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

刘艺 .

中国专利 :CN109753437A ,2019-05-14

[5]

测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

周文 ;

余望好 .

中国专利 :CN120578599A ,2025-09-02

[6]

可控测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

周文 ;

余望好 .

中国专利 :CN120596383A ,2025-09-05

[7]

一种测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

葛丽颖 .

中国专利 :CN120123249A ,2025-06-10

[8]

测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

刘玉 ;

陈舒翔 .

中国专利 :CN120144454B ,2025-12-16

[9]

测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

刘玉 ;

陈舒翔 .

中国专利 :CN120144454A ,2025-06-13

[10]

生成方法、测试方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

侯晓宇 .

中国专利 :CN119621587A ,2025-03-14

← 1 2 3 4 5 →