一种测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510323598.6

申请日：

2025-03-18

公开(公告)号：

CN120123249A

公开(公告)日：

2025-06-10

发明(设计)人：

葛丽颖

申请人：

成都海光微电子技术有限公司

申请人地址：

610041 四川省成都市高新区和乐二街171号4栋

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

北京市广友专利事务所有限责任公司 11237

代理人：

张仲波

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250318
2025-06-10	公开	公开

共 50 条

[1]

可控测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

周文 ;

余望好 .

中国专利 :CN120596383A ,2025-09-05

[2]

测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN111198787B ,2020-05-26

[3]

测试程序生成方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

刘艺 .

中国专利 :CN109753437B ,2024-06-25

[4]

测试程序生成方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

刘艺 .

中国专利 :CN109753437A ,2019-05-14

[5]

测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

周文 ;

余望好 .

中国专利 :CN120578599A ,2025-09-02

[6]

一种芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

章晨杰 ;

张清华 ;

刘翔 .

中国专利 :CN117806961A ,2024-04-02

[7]

芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李超 .

中国专利 :CN119847843A ,2025-04-18

[8]

半导体测试程序的生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

雷龙 ;

骆劼行 .

中国专利 :CN119166506A ,2024-12-20

[9]

生成方法、测试方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

侯晓宇 .

中国专利 :CN119621587A ,2025-03-14

[10]

测试程序的生成方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

马鸣 .

中国专利 :CN114528218A ,2022-05-24

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