一种角度可控的荧光光谱仪测试样品台及测试方法

被引：0

申请号：

CN202210712575.0

申请日：

2022-06-22

公开(公告)号：

CN115060753A

公开(公告)日：

2022-09-16

发明(设计)人：

梁延杰陈东讯乔琳晶毕见强

申请人：

申请人地址：

250061 山东省济南市历下区经十路17923号

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

G01N232204

代理机构：

济南圣达知识产权代理有限公司 37221

代理人：

闫伟姣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-10-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20220622
2022-09-16	公开	公开

共 50 条

[1]

一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置 [P].

杨振 ;

杨剑 .

中国专利 :CN203772770U ,2014-08-13

[2]

荧光光谱仪半定量检测试样的制备方法 [P].

王全华 ;

朱茜 ;

武术 .

中国专利 :CN119915854A ,2025-05-02

[3]

一种荧光光谱仪固体粉末样品测试支架 [P].

王超楠 ;

杨吟野 ;

董泽刚 ;

许芳 .

中国专利 :CN207318320U ,2018-05-04

[4]

粉末样品X荧光光谱仪专用测试装置 [P].

陈正辉 .

中国专利 :CN213423027U ,2021-06-11

[5]

X射线荧光光谱仪PEEK样品台 [P].

赵增腾 ;

马自强 ;

田鹏辉 ;

郁开欣 ;

尹方园 ;

张魁英 ;

沈小宇 .

中国专利 :CN218272054U ,2023-01-10

[6]

一种荧光光谱仪高效测试底座 [P].

杨同辉 ;

谷勤忠 ;

姜雪莲 ;

郑燕敏 .

中国专利 :CN207908367U ,2018-09-25

[7]

样品环及X荧光光谱仪 [P].

董清世 ;

钱桂云 .

中国专利 :CN206161409U ,2017-05-10

[8]

荧光光谱仪外设组合试样库发光性能的测试方法及装置 [P].

张显 ;

荆西平 ;

田曙坚 .

中国专利 :CN1605857A ,2005-04-13

[9]

一种样品温度可调式荧光光谱仪样品台 [P].

王一 ;

王阳 ;

宋家勇 ;

郭祥 ;

王继红 ;

李军丽 ;

杨晨 ;

丁召 .

中国专利 :CN213482068U ,2021-06-18

[10]

一种荧光光谱仪样品杯 [P].

韩涛 ;

王伟卫 .

中国专利 :CN211697506U ,2020-10-16

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