荧光光谱仪外设组合试样库发光性能的测试方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410096495.9

申请日：

2004-12-02

公开(公告)号：

CN1605857A

公开(公告)日：

2005-04-13

发明(设计)人：

张显荆西平田曙坚

申请人：

申请人地址：

100871北京市海淀区北京大学化学系

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G01J100

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：

徐宁;关畅

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-02-16	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101037110344 IPC(主分类):G01N 21/64 专利号:ZL2004100964959 申请日:20041202 授权公告日:20070725 终止日期:20100104
2005-06-22	实质审查的生效	实质审查的生效
2007-07-25	授权	授权
2005-04-13	公开	公开

共 50 条

[1]

荧光光谱仪半定量检测试样的制备方法 [P].

王全华 ;

朱茜 ;

武术 .

中国专利 :CN119915854A ,2025-05-02

[2]

荧光光谱仪设备、系统及荧光光谱检测方法 [P].

黄韶辉 .

中国专利 :CN119198663A ,2024-12-27

[3]

荧光光谱仪的滤光片切换装置及手持荧光光谱仪 [P].

刘维 ;

罗建文 .

中国专利 :CN218157639U ,2022-12-27

[4]

一种角度可控的荧光光谱仪测试样品台及测试方法 [P].

梁延杰 ;

陈东讯 ;

乔琳晶 ;

毕见强 .

中国专利 :CN115060753A ,2022-09-16

[5]

ARL系列X荧光光谱仪试样盒开关装置 [P].

刘成焱 ;

朱慧 .

中国专利 :CN201795998U ,2011-04-13

[6]

用于发光材料组合试样库发光性能自动测试系统 [P].

张显 ;

常进 .

中国专利 :CN104142318A ,2014-11-12

[7]

荧光光谱仪及其控制方法 [P].

刘召贵 ;

应刚 ;

胡晓斌 ;

姚栋樑 ;

李玉花 .

中国专利 :CN101551346B ,2009-10-07

[8]

荧光光谱仪的夹持检测装置 [P].

谢建伟 ;

刘文华 ;

姚京璧 ;

赵萍红 ;

李小军 .

中国专利 :CN203275277U ,2013-11-06

[9]

一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置 [P].

杨振 ;

杨剑 .

中国专利 :CN203772770U ,2014-08-13

[10]

激发光源漂移校正装置及荧光光谱仪 [P].

李毅 ;

李飞 ;

邓丽娜 .

中国专利 :CN104597011A ,2015-05-06

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