用于发光材料组合试样库发光性能自动测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410377291.6
申请日
2014-08-01
公开(公告)号
CN104142318A
公开(公告)日
2014-11-12
发明(设计)人
张显 常进
申请人
申请人地址
710071 陕西省西安市太白南路2号
IPC主分类号
G01N2164
IPC分类号
代理机构
陕西电子工业专利中心 61205
代理人
田文英;王品华
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
荧光光谱仪外设组合试样库发光性能的测试方法及装置 [P]. 
张显 ;
荆西平 ;
田曙坚 .
中国专利 :CN1605857A ,2005-04-13
[2]
材料粘附与摩擦性能自动测试系统 [P]. 
戴振东 ;
李明孜 ;
靳广虎 ;
张昊 .
中国专利 :CN1425908A ,2003-06-25
[3]
材料前标签读取性能自动测试系统 [P]. 
孟俊杰 ;
任豪 ;
刘雪芳 ;
林镇杰 ;
彭诗然 .
中国专利 :CN203397377U ,2014-01-15
[4]
一种压电材料性能自动测试系统 [P]. 
范晓荣 ;
董显林 .
中国专利 :CN202471842U ,2012-10-03
[5]
材料前标签读取性能自动测试系统及测试方法 [P]. 
孟俊杰 ;
任豪 ;
刘雪芳 ;
林镇杰 ;
彭诗然 .
中国专利 :CN103426015B ,2013-12-04
[6]
电性能自动测试系统 [P]. 
余金文 ;
邓庆文 ;
林凌斌 ;
陈国祥 ;
曾延华 .
中国专利 :CN209911484U ,2020-01-07
[7]
电路性能自动测试系统 [P]. 
周豪 .
中国专利 :CN108008282A ,2018-05-08
[8]
一种压电材料性能自动测试系统及方法 [P]. 
范晓荣 ;
董显林 .
中国专利 :CN102495299A ,2012-06-13
[9]
基于遗传算法的发光材料组合试样库数据分析方法 [P]. 
张显 ;
王丹琴 ;
常进 .
中国专利 :CN104181141B ,2014-12-03
[10]
一种自发光材料性能测试系统及测试方法 [P]. 
李政 ;
冯小伟 ;
史万旭 ;
张好杰 ;
马宝君 ;
马涵泊 ;
杨丹 ;
彭飞 .
中国专利 :CN115468899B ,2024-04-26