一种大功率芯片老化机

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201721740720.7
申请日
2017-12-13
公开(公告)号
CN207528877U
公开(公告)日
2018-06-22
发明(设计)人
黄日新 王萌
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区新安街道67区留仙一路甲岸科技工业园1号厂房1楼B区
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
深圳市中科创为专利代理有限公司 44384
代理人
谭雪婷;高早红
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种大功率芯片老化机 [P]. 
黄日新 ;
王萌 .
中国专利 :CN107884705A ,2018-04-06
[2]
一种大功率芯片老化测试装置 [P]. 
陈美金 .
中国专利 :CN208207151U ,2018-12-07
[3]
大功率激光芯片测试老化夹具 [P]. 
李伟 ;
罗骏 .
中国专利 :CN212845745U ,2021-03-30
[4]
一种大功率芯片老化测试装置 [P]. 
陈美金 .
中国专利 :CN108828432A ,2018-11-16
[5]
一种大功率芯片恒温老化测试系统 [P]. 
陈美金 .
中国专利 :CN208207152U ,2018-12-07
[6]
一种大功率芯片 [P]. 
丁杰 ;
王金 .
中国专利 :CN202332944U ,2012-07-11
[7]
一种小功率芯片老化机 [P]. 
黄日新 ;
王萌 .
中国专利 :CN207530303U ,2018-06-22
[8]
大功率激光芯片老化测试装置 [P]. 
汪飞 .
中国专利 :CN220289771U ,2024-01-02
[9]
大功率激光芯片测试老化夹具 [P]. 
李伟 ;
罗骏 .
中国专利 :CN111352024B ,2024-11-29
[10]
大功率激光芯片测试老化夹具 [P]. 
李伟 ;
罗骏 .
中国专利 :CN111352024A ,2020-06-30