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大功率激光芯片测试老化夹具
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010362517.0
申请日：
2020-04-30
公开(公告)号：
CN111352024A
公开(公告)日：
2020-06-30
发明(设计)人：
李伟
罗骏
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区新安街道67区留仙一路甲岸科技工业园1号厂房1楼B区
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
深圳市中科创为专利代理有限公司 44384
代理人：
彭涛;宋鹏跃
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-06-30 | 公开 | 公开 |
| 2020-07-24 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200430 |